Santec STS光學器件掃描系統是光學器件研發和生產現場的理想評估工具。它整合了可調諧激光器、光功率計、偏振控制單元和專用軟件，可對光學器件的相關特性進行高效測量。
特點
系統組成：主要由TSL系列可調諧激光器、MPM系列多端口功率計、PCU-110偏振控制單元和定制軟件構成。
測量原理：通過同時獲取通過被測器件（DUT）傳輸的光功率，同時實時參考可調諧激光器的輸出功率，來進行高精度測量。系統采用穆勒矩陣法計算偏振相關損耗（PDL）。
可實現高精度插入損耗（IL）、波長相關損耗（WDL）和PDL特性測量，IL再現性<±0.02dB，PDL再現性為±0.01dB。具備縮放算法，能以高波長分辨率和波長精度進行測量，還可減少測量時間。支持多通道測量，具有圖形用戶界面和DLL支持，方便配置測量參數與數據分析，WDL測量動態范圍超過80dB。
主要用于光學器件研發和生產過程中，對密集波分復用（DWDM）器件、陣列波導光柵（AWG）、波長選擇開關（WSS）等各類光器件的IL、WDL、PDL等參數進行測量和評估。
化工儀器網