溫度范圍:這類試驗箱溫度范圍可達 - 70℃至 150℃,能滿足多種高低溫測試需求。
控制精度:溫度控制精度可達 ±0.1℃,可精確模擬各種高低溫環境,為產品測試提供穩定的溫度條件。
內箱尺寸:隨著型號中數字的增大,內箱尺寸逐漸增大,如 SEFH-A-150UQS 內箱尺寸相對較小,而 SEFH-A-500UQS 內箱尺寸相對較大,可根據測試樣品的大小選擇合適的型號。
快速變化特性:作為快速變化試驗箱,可在較短時間內實現溫度的快速升降,能高效完成不同溫度條件下的循環測試,提高測試效率。
電源要求:一般需接入穩定的交流電源,具體電壓和頻率要求可能因地區和設備配置不同而有所差異,通常為三相交流電源。
適用標準:符合相關國際和國內標準,如 GB/T 2423 等系列標準,可滿足不同行業對產品環境適應性測試的標準要求。
- 其它儀器
-
試驗箱 誤碼儀 光纖放大器 光衰減器模塊 激光源模塊 光開關模塊 手持終端 數據采集器主機 數據采集單元 數據分析儀 矢量適配器 射頻參考源 驅動器 銣振蕩器 校準模塊 脈沖分析儀 接收器 電阻計 靜電放電模擬器 光纖切割刀 數據采集器模塊 重涂機 電壓計 耐壓測試儀 應用模塊 功率分配器 恒電位儀 / 恒電流儀 射頻頻率計數器 超級兆歐表 EMI測試接收機 模塊 信號質量分析儀模塊 靜電計 光發射機 偏振綜合儀 多通道系統 光波測試系統 光功率傳感器模塊 短距離接收器模塊 穩壓電源 高速點膠機 光學熱臺 高低溫試驗箱 適配器 超高溫熱臺 地質冷熱臺 氣相色譜儀 雙連接閂鎖套件 幀控制器 熔接機 音頻分析儀 雙激光軸板 光電時鐘恢復 光電時鐘恢復模塊 TDA系統 衰減器 噪聲校準儀 可編程曲線跟蹤器 數字萬用表 光衰減器 電模塊 光模塊 光纖熔接機 其它 校準源 半導體與晶體管測試 噪聲與干擾 半導體參數分析儀 協議分析儀
- KEYSIGHT/美國是德
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- FLUKE/福祿克
- EXFO/加拿大
- Keithley/美國吉時利
- YOKOGAWA/日本橫河
- Anritsu/安立
- ESPEC/愛斯佩克
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- Ceyear/思儀
- SIGLENT/鼎陽
- 美國力科
- ADCMT/愛德萬
- Bristol/美國
- FUJIKURA/藤倉
- Newport/美國
- HIOKI/日本日置
- SUMITOMO/住友
- LitePoint/萊特波特
- KIKUSUI/日本菊水
- 古河蓄電池
- OLYMPUS/奧林巴斯
- BCHP/中惠普
- OceanOptics/海洋光學
- RIGOL/普源
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- ThermoTST
- Bruker/布魯克
- Thorlabs
- inTEST
- SPIRENT/思博倫
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- Hitachi/日立
- VIAVI
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- Ophir
- BIRD/美國鳥牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- TESEQ/特測
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- AP(Audio Precision)/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- TDK-LAMBDA/日本
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
- Aeroflex