產品概述：
Santec SPA-110掃頻光子學分析儀以其高分辨率、擴展的測量范圍和掃頻分析能力等特點，在光子集成電路測試、硅光子器件測試以及光纖元件和組件測試等領域具有廣泛的應用前景。
產品特點：
高分辨率：SPA-110的采樣分辨率為5μm，這一高分辨率使得它能夠輕松識別光子集成電路（PIC）和硅光子（SiPh）器件內的結構，為研發人員提供了更為精細的分析手段。
擴展的測量范圍：基于SPA-100技術，SPA-110的總測量范圍從5米擴展到了30米。這一增加的范圍允許在光纖設置中添加光信號調節設備，如偏振控制器和光開關，從而使其特別適用于對硅光子電路、光纖元件和緊湊型光纖組件等小型器件進行更全面的表征。
掃頻分析能力：SPA-110具備掃頻分析能力，能夠生成類似于光時域反射儀（OTDR）的跡線，但分辨率和精度更高。這使得它在分析復雜光子系統的空間分布和故障時具有顯著優勢。
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