產品描述:
Santec PEM消光比測試儀采用特別技術制造,可實現1260~1630nm全波段測量,該消光比測試儀具有高的消光比測試精度、偏振角測試精度,能夠測量高達50dB的消光比,并且配備了GPIB接口,適用于偏振光軸調整的光學元器件裝配及保偏光纖熔接的質量控制及檢測等領域。
技術參數:
波長:1260~1630nm
PER測量動態范圍:50 dB
輸入功率:-40至+10 dBm/正常功率,-25至+20dBm/高功率
功率精度:<±0.3dB
電源:AC100-240
實現1260~1630nm全波段測量
配備了GPIB接口
適用于偏振光軸調整的光學元器件
具有高的消光比測試精度
采用一些技術制造
偏振角測試精度
保偏光纖熔接的質量控制及檢測