描述:
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀, 適用于對低溫要求不高的非高功率芯片或者器件測試, 例如光模塊, 光通訊研發, 存儲芯片, MCU 芯片研發等, inTEST BT28 熱流儀臺式設計, 占地面積小, 滿足場地有限的實驗環境。
特點:
當前位置:深圳市晧辰電子科技有限公司>>熱流儀>> BT28熱流儀
描述:
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀, 適用于對低溫要求不高的非高功率芯片或者器件測試, 例如光模塊, 光通訊研發, 存儲芯片, MCU 芯片研發等, inTEST BT28 熱流儀臺式設計, 占地面積小, 滿足場地有限的實驗環境。
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