雙管水銀壓力表型號： DYB3

用來測量真空裝置內(nèi)的壓力，校驗水銀壓力表、空盒氣壓表、氣壓計及探空儀器等儀器，也可用來測量大氣壓力。
雙管水銀壓力表
技術(shù)參數(shù)
　　測量范圍：　0～1070hPa
　　zui小分度值：0.05hPa
　　準(zhǔn) 確 度：　±0.3hPa(450～1070hPa時)
　　　　　　　　±0.5hPa(0～450hPa時)
　　使用溫度：　-15℃～+45℃
　　外廓尺寸：　1190×210×120mm
　　重    量：　≤7.5kg

產(chǎn)品名稱：非接觸厚度電阻率測試儀 產(chǎn)品型號：JXNRT1

非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1 
一、測試原理 
1、電阻率測試探頭原理 
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成。將半導(dǎo)體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導(dǎo)體硅片中會產(chǎn)生渦流效應(yīng)，通過檢測渦流效應(yīng)的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數(shù)場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。 
2、厚度測試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復(fù)性好，測試數(shù)值穩(wěn)定，技術(shù)成熟等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于各種材料厚度的測試。 
  
二、適用范圍 
本設(shè)備為非接觸無損測量設(shè)備，測試過程中對硅片表面以及內(nèi)部不會造成損傷。特別適用于代替四探針法用于半導(dǎo)體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標(biāo)進(jìn)行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導(dǎo)電薄膜生產(chǎn)企業(yè)。 
三、儀器構(gòu)成 
1、測試主機(jī)：1 臺 
2、電源線：1 根 
3、串口數(shù)據(jù)線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個 

四、儀器外觀尺寸結(jié)構(gòu)及圖片 
1、整機(jī)尺寸：340*260*180mm 
2、機(jī)箱顏色：電腦白 


3、儀器結(jié)構(gòu)：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標(biāo) 
1、電氣規(guī)格 
a. 使用標(biāo)準(zhǔn)三插頭，由 220V 交流電供電，整機(jī)功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規(guī)范，請確保電源地線正確連接。 
2、測試范圍 
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導(dǎo)體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度Z大的測試范圍可以擴(kuò)展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內(nèi)的可以按要求調(diào)整， 調(diào)整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區(qū)域。

產(chǎn)品名稱：門電路演示器 產(chǎn)品型號：S-J2484型

門電路演示器   型號：S-J2484型

1、概述

S-J2484型門電路演示器是中學(xué)物理教學(xué)學(xué)習(xí)《有用的電子元件》章節(jié)時作教學(xué)演示實(shí)驗使用的教學(xué)實(shí)驗儀器。

儀器*按照教科書的教學(xué)要求，采用直接演示方式，簡單直觀地將門電路的原理、特點(diǎn)展示出來。同時，由于儀器采用了集成電路，設(shè)有多級過壓、反壓電短接等，自動保護(hù)電路。實(shí)驗效果良好，抗干擾強(qiáng)，性能穩(wěn)定是本儀器的特點(diǎn)。

通過教學(xué)演示實(shí)驗，使學(xué)生加深對門電路的認(rèn)識。

2、主要技術(shù)性能

2-1、集成電路規(guī)格型號：

2-1-1、與  門：74LS08。

2-1-2、非  門：74LS04。

2-1-3、或  門：74LS32。

2-2、工作電源： DC  6 ~ 9V。

2-3、工作環(huán)境：溫度：－10℃ ~ 40℃，相對濕度：< 85％。

2-4、工作時間：連續(xù)。