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X射線熒光分析技術無損檢測貴金屬首飾含量中的技巧
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。
一、x射線熒光分析基本原理
所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述x射線熒光的分析，確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線熒光分析儀。用x射線熒光分析儀測量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測試方法。這種方法是將一束初級x射線照射被分析的樣品，使樣品中的每種元素的原子都發射出各自特征的x射線熒光。于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的x射線的能量也是特定的，稱之為特征x射線。通過測定特征x射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征x射線的強弱(或者說x射線光子多少)則代表該元素的含量。
二、x射線熒光分析儀的分類
1.根據分光方式的不同，x射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀。通過測定熒光x射線的能量實現對被測樣品分析的方式稱之為能量色散x射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光x射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長色散x射線熒光分析，相應的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。
2.根據激發方式的不同，x射線熒光分析可分為源激發和管激發兩種：用放射性同位素源發出的x射線作為原級x射線的x射線熒光分析儀稱為源激發儀器，其特點是體積較小、結構簡單，價格低廉；用x射線發生器(又稱x光管)產生原級x射線的x射線熒光分析儀稱為管激發儀器，特點是體積較大、輸出強度高且可調，價格也較昂貴。以上我們介紹了x射線熒光分析儀的基本原理及其主要類型，下面我們著重闡述一下用x射線熒光分析技術無損檢測貴金屬首飾含量所應注意避免的誤區。
誤區1：強調“熒光”
過分迷信依賴大型儀器。許多用戶錯誤地認為只有用x光管作為激發源的管激發儀器才是x熒光儀，一味地強調所謂“熒光”。事實上，如前所述，無論是采用x光管還是采用放射性同位素作為激發源，只要是由x射線激發，通過測定被測樣品發出的熒光x射線得出其化學成分及含量的儀器，都是x熒光分析儀。
誤區2：重硬件輕軟件和技術
任何一種分析儀器在某一領域的成功應用都是硬件、軟件和分析技術有機結合的結果，三者缺一不可。毫無疑問，硬件是基礎，但硬件并不能決定一切。從應用的角度來講，硬件只有通過軟件才能充分發揮作用，而分析技術涉及儀器應用的每一個環節。
誤區3：重價格輕服務
價格當然是選購商品的重要因素，但不應當是決定性因素。分析儀器各部件質量及其價格懸殊大，并且直接決定了儀器的售價，單純追求價格便宜，很難保證質量。對于x熒光分析儀這樣的設備來說，服務往往更為重要。這里所說的服務不僅指安裝調試備品備件供應維修服務等，更為重要的是應用技術服務。
誤區4：片面追求準確度忽視精密度
不重視穩定性和重現性。準確性固然重要，精密度也決不可忽視，首先要關注的是精密度問題，也就是說，同一樣品多次測量，其結果應有良好的一致性，每一測量結果與均值的差要足夠小，至于測量值與真值的差，往往屬于系統誤差，是可以進行數學校正的。
此外，還應重視儀器的穩定性和重現性。所謂穩定性是指同一樣品連續測量多次(通常為21次)的標準偏差；而重現性則是同一樣品間隔較長時間后再次測量的結果間的一致性。這兩項指標也是x射線熒光分析儀器的重要指標，我們常說的準確測量必須是建立在穩定性和重復性基礎之上的。
誤區5：分析時間越短越好
X射線測量是隨機事件的統計測量，是由統計規律決定的，計數的量取決于測量時間，并直接決定著測量誤差的大小，足夠長的測量時間是測量精度的前提條件，為了保證測量精度，必須有足夠的測量時間以及足夠的計數率。