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原子熒光光譜法（AFS）作為痕量分析技術的一種，有哪些優缺點？
閱讀：7011 發布時間：2020-5-8
原子光譜，是由原子中的電子在能量變化時所發射或吸收的一系列波長的光所組成的光譜。原子光譜法是由原子外層或內層電子能及的變化產生的，表現形式為線光譜。常用的原子光譜有：
原子熒光光譜法（AFS）是一種痕量分析技術，是原子光譜法中的一個重要分支。是介于原子發射光譜法(AES)和原子吸收光譜法(AAS)之間的光譜分析技術 ，所用儀器及操作技術與原子吸收光譜法相近。
1、原子發射光譜法（AES）
2、原子吸收光譜法（AAS）
3、原子熒光光譜法（AFS)
4、X射線熒光光譜法(XFS)
原子熒光光譜法（AFS）是一種痕量分析技術，是原子光譜法中的一個重要分支。是介于原子發射光譜法(AES)和原子吸收光譜法(AAS)之間的光譜分析技術 ，所用儀器及操作技術與原子吸收光譜法相近。
原子熒光光譜儀(AFS)與原子吸收光譜儀(AAS)和原子發射光譜儀(AES)相比，主要特點是：
1、檢出限低，靈敏度高，采用新的高強度光源可進一步降低檢出限；
2、譜線簡單，干擾少，對ICP -AFS來說，幾乎沒有光譜干擾和基體干擾，其選擇性甚至優于ISP-MS；
3、分析線性范圍寬，可達3～5個數量級；
4、由于原子熒光發射的空間多方性，比較容易制造多道儀器，實現多元素的同時測定；5、儀器結構簡單，價格便宜，易于普及。
1、檢出限低，靈敏度高，采用新的高強度光源可進一步降低檢出限；
2、譜線簡單，干擾少，對ICP -AFS來說，幾乎沒有光譜干擾和基體干擾，其選擇性甚至優于ISP-MS；
3、分析線性范圍寬，可達3～5個數量級；
4、由于原子熒光發射的空間多方性，比較容易制造多道儀器，實現多元素的同時測定；5、儀器結構簡單，價格便宜，易于普及。
盡管原子熒光分析法有許多優點，也還是存在部分不足之處：
1、由于熒光猝滅效應的存在，致其在測定復雜基體樣品和高含量樣品時，還有一定的困難；
2、原子熒光具有固有的散射光干擾，使得其對激發光源和原子化器有較高的要求，從而導致在現有技術條件下，原子熒光光譜分析理論上所具有的優勢在實際中難以充分發揮出來；
3、除HG—AFS在測定As、Sb、Se等易于生成氫化物的元素以及Hg等易于生成蒸氣的元素具有*的優勢外，目前AFS測定的元素種類較少；
4、理論上AFS分析的線性范圍很寬，但在目前的實際應用中部分元素仍未能達到預想的線性范圍；
5、氣相、液相干擾機理等尚待進一步研究。
因此，AFS技術在應用方面還不如AAS和AES廣泛，三者具有各自的優點和適應范圍。這三種方法相互補充，構成一個完整的原子光譜分析體系。
1、由于熒光猝滅效應的存在，致其在測定復雜基體樣品和高含量樣品時，還有一定的困難；
2、原子熒光具有固有的散射光干擾，使得其對激發光源和原子化器有較高的要求，從而導致在現有技術條件下，原子熒光光譜分析理論上所具有的優勢在實際中難以充分發揮出來；
3、除HG—AFS在測定As、Sb、Se等易于生成氫化物的元素以及Hg等易于生成蒸氣的元素具有*的優勢外，目前AFS測定的元素種類較少；
4、理論上AFS分析的線性范圍很寬，但在目前的實際應用中部分元素仍未能達到預想的線性范圍；
5、氣相、液相干擾機理等尚待進一步研究。
因此，AFS技術在應用方面還不如AAS和AES廣泛，三者具有各自的優點和適應范圍。這三種方法相互補充，構成一個完整的原子光譜分析體系。