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高準(zhǔn)確度
?熱膨脹系數(shù)
?膨脹/收縮
?玻璃化轉(zhuǎn)變
?膨脹軟化
?燒結(jié)

材料熔化前的膨脹測量分析
每日實驗次數(shù)翻倍
雙倍精度，無需校準(zhǔn)，也無需校正計算
節(jié)省樣品制備時間
薄材樣品分析無厚度要求
Misura? ODLT光學(xué)膨脹計是二十多年研發(fā)的成果，它具有*的膨脹分辨率，可在不接觸樣品的情況下，在甚至超過軟化點時進(jìn)行熱力學(xué)分析。
利用Misura?臥式光學(xué)膨脹計可以較全面地表征所評估的材料，尤其是那些表現(xiàn)出減小的膨脹量和收縮的材料及所有極脆材料并且可自動識別：
? 熱膨脹系數(shù)(CTE/COE)；
? 阿爾法(α)和阿爾法的立方值；
? 德爾塔(Δ) L/L0；
? 玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)；
? 膨脹軟化溫度(Ts)；
? 加熱冷卻過程中的尺寸變化；
? 多孔產(chǎn)品、無玻璃相的材料和薄膜樣品或多層材料的薄膜樣品的燒結(jié)過程；
? 膨脹和收縮。