掃描電化學顯微鏡（SECM）是一種具有空間分辨的原位電化學技術，它是基于掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，STM）和超微電極（Ultra- microelectrodes，UME）的發展而發明的一種原位掃描探針顯微鏡技術，它的分辨率介于STM和普通光學顯微鏡之間。掃描電化學顯微鏡可用于測量液體/固體，液體/氣體和液體/液體界面的局部界面的電化學行為。

掃描電化學顯微鏡與掃描隧道顯微鏡(STM)的工作原理類似。但SECM測量的不是隧道電流，而是由化學物質氧化或還原給出的電化學電流。盡管SECM的分辨率較STM低，但SECM的樣品可以是導體，絕緣體或半導體，而STM只限于導體表面的測量。SECM除了能給出樣品表面的形貌外，還能提供豐富的微區化學或者電化學信息，其可觀察表面的范圍也大得多。

SECM具有多種操作模式：電流模式、電位模式、產生-收集模式、競爭模式以及表面問轉模式等。它可實現原位測量電極表面形貌以及電極溶液界面活性點位置、大小和物種濃度分布，從而能更加準確的認識材料表面的電化學過程及動力學規律。目前，SECM已被廣泛應用于材料，生命科學和藥學等多個領域中。