隨著行業(yè)法規(guī)的逐步深入，工藝技術(shù)的逐漸升級(jí)，清潔度的要求也越來(lái)越高。控制產(chǎn)品清潔度的重要性和復(fù)雜性也越來(lái)越被大家所關(guān)注。

2020 年，第三屆汽車(chē)零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)將帶領(lǐng)大家：

· 聚焦 汽車(chē)清潔度的法規(guī)和政策
· 關(guān)注 清潔度控制新工藝和新設(shè)備
· 跟蹤 關(guān)鍵零部件清潔度的要求提升和優(yōu)化
· 分享 汽車(chē)行業(yè)清潔度控制成果和經(jīng)驗(yàn)
· 交流 汽車(chē)領(lǐng)域的清潔度新挑戰(zhàn)
· 開(kāi)發(fā) 清潔度新市場(chǎng)

會(huì)議時(shí)間：2020 年 9 月 24 日 - 25 日
會(huì)議地點(diǎn)：上海金地嵐韻酒店

飛納會(huì)議報(bào)告

報(bào)告主題：
基于電鏡的汽車(chē)清潔度和鋰電清潔度自動(dòng)化檢測(cè)方案 —— Particle X

報(bào)告時(shí)間：
2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30

Phenom ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)集成了掃描電鏡和能譜儀，相比傳統(tǒng)的重量法和光鏡法能更有效率地監(jiān)控過(guò)程清潔度。傳統(tǒng)的方法只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測(cè)方法，允許工程師看見(jiàn)微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

使用自動(dòng)化 SEM-EDX 解決方案實(shí)現(xiàn)粒度、形狀和化學(xué)成分的快速、便捷分析：

· 顆粒粒度分布 – 全面的顆粒粒度范圍
· 顆粒形貌分析 – 多種測(cè)量方法可供選擇
· 雜質(zhì)顆粒檢測(cè) – 可檢測(cè)出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒
· 高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

參加第三屆汽車(chē)零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)，與飛納電鏡一起探究清潔度檢測(cè)新解決方案！