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脈沖式匝間絕緣耐壓測試儀、數字式匝間測試儀
點擊次數：3156 發布時間：2013-10-15
脈沖式線圈測試儀（即數字式匝間儀）可的、非破壞
性的對有線圈繞組的部件進行電氣試驗。其原理是對標準線圈繞組和被測試繞組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態波形，以測試被測線圈的品質。瞬態波形也就是線圈內發生的衰減振
蕩的波形，他可同時判斷該繞組的電感、品質因素、繞組的圈數差及匝間短路情況，在有鐵芯的情況下，還可以判斷其材質的差別等。在施加高壓脈沖的情況下，電暈放電的發生還可以
對絕緣不良進行判斷。總之，標志線圈品質的各個要素，可以在極短時間內檢查完成。
脈沖式線圈測試儀，采用技術的高穩定性高壓沖擊電源，大幅提高了儀器測試準確度。儀器通過微型計算機技術把波形的各種參數量化處理，再用直觀的波形進行顯示和判斷，操作簡單，判斷準確，自動化程度高。該儀器體積小，重量輕，便于攜帶。沖擊波形實例：
圖1.1-1線圈衰減振蕩波形分析
???采用技術的高穩定性高壓沖擊電源和可控硅模塊控制的高壓開關器件，大幅度提高了產品的穩定性、可靠性。（*避免了*代模擬產品“充氣氫閘管”、“示波管”等造成的穩定性差，開機預熱時間長，壽命短，易老化等問題。）
采用先進的數字信號處理技術，四種波形比較方法快速判斷線圈品質，LCM液晶模塊顯示，人性化操作界面，簡單易學，比較結果直接顯示，并有多種聲響報警方式可選擇，體積小，重量輕
工作原理
脈沖式線圈測試儀以MCU中央信息處理系統為核心，由它控制高壓脈沖發生器對線圈施加一次極短時間的高壓脈沖，線圈在脈沖作用下產生自由衰減振蕩,其瞬態波形的模擬信號經由CPLD可編程邏輯器件控制的高速A/D轉換器轉換成數字信號,然后反饋至MCU中央信息處理系統進行時間、電暈量、面積、相位等參數的運算，處理結果保存在MCU信息處理系統的電子存
儲器中，并用直觀易懂的文字、數據_________及圖形顯示在240×320點陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現的真實性。并且根據用戶設定的條件,對合格或不合格者進行報警處理。
線圈質量檢查判斷方法
圖1.3.2_1：波形面積比較
在任意的區間內，對標準線圈和被測線圈波形面積進行比較。
如圖1.3.2_1所示，計算出A-B區間內的面積，判定兩者面積相差的程度。判定的標準用百分比（％）進行設定，計算結果在范圍內的為合格品。區間內面積的大小，大體與線圈內能量損耗成比例，故能以此判斷能量損耗的大小。
例如被測線圈有匝間短路時，短路部分的反映是能量的損失增大。
圖1.3.2_3：波形電暈量比較
在任意的區間內，對被測線圈的電暈放電量與設定值進行比較。
如圖1.3.2_3所示，基本忽略波形差異，在任意的A-B區間內，僅在被測線圈實測波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進行面積（積分）計算，并將計算結果與設定值進行比較，判定電暈放電量是否合格。可以認為該量是模擬方式中檢出的通過高頻濾波器的量值。
圖1.3.2_2：波形面積差比較
在任意區間內，對標準線圈和被測線圈波形偏差部分的面積與標準線圈波形面積進行比較。
如圖1.3.2_2 所示，計算出A-B 區間內面積差，對比標準波形（同圖1.3.2_1）判定偏差的程度。
判定的標準用百分比（％）進行設定，結果在范圍內的為合格品。波形偏差面積的大小表示電感值及能量損耗程度的總和。此方法可較全面地檢查線圈的電感L值及能量損失。
圖1.3.2_4：波形相位比較
對標準線圈和被測線圈的波形相位相應過零點（A、B）的差值與設定值進行比較。
如圖1.3.2_4 所示，以的標準波形的過零點A 為基礎，與被測線圈實測波形相應的過零點B相差的點數作為判定依據，并將計算結果與設定值進行比較，判定波形相位是否合格。由于波形相位與線圈的電感L密切相關，此方法可偏重于檢查線圈的電感L值。
脈沖式匝間絕緣耐壓測試儀、數字式匝間測試儀