少子壽命測定儀|微波光電導載流子復合壽命測試儀 型號：GDSWJ-100B 貨號：ZH11749 
產品介紹：
本儀器配置數字存儲示波器，軟件依照壽命測量基本原理編寫，采用了標準（MF28 及MF1535）中推薦的幾種讀數方法。
數字示波器具有存儲功能，應用平均采樣方式，平均次數可選4、16、32、64、128、256 次，隨平均次數的增加隨機噪聲被減小，波形穩定、清晰。
微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI 標準MF1535-0707 及標準GB/T 26068-2010設計制造。本設備采用微波反射接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm 以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量，提供接觸、損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體的重要檢測項目。
指標：
壽命測量范圍：0.25μs～10ms；
電阻率下限：≥0.5Ω·cm，尚未發現電阻率測量上限。
型號：N 型或P 型單晶或鑄造多晶。
紅外光源波長：0.904～0.905μm；
外形尺寸：365×415×160mm
產品重量：13Kg
工作電源：～220V 50Hz
功耗范圍：≤40W