| 便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀（成套） GDSKDT-1 B探頭 型號：GDS/KDY-1A | 貨號：ZH420 |
| 產品簡介 1、半導體材料電阻率的及標準測試方法。 2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。 3、電阻率測量范圍復蓋zui常用的區段：0.01—199.9Ω·cm 。 方塊電阻測量范圍復蓋zui常用的區段：0.1—1999Ω/□。 4、配置高精度恒流源，測量電流穩定，分兩檔：1mA、10mA，每檔在大范圍內調節（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。 5、測量精度高：電器測量精度優于0.3%； 整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標準硅片誤差≤±3%。 測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標準硅片誤差≤±5%。 6、重量輕，約2.5kg；體積小：240×210×100（mm）。 7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。 |  |
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