您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
會(huì)員.png)
14產(chǎn)品分類品牌分類
-
鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
鐵電薄膜鐵電——電滯回線的測(cè)量方法選擇
鐵電薄膜鐵電——電滯回線的測(cè)量方法選擇
目前，測(cè)量電滯回線的方法較多。其中測(cè)試方法簡(jiǎn)單、應(yīng)用廣泛的是Sawyer-Tower電路，如圖所示，其中虛框部分為鐵電薄膜樣品的等效電 路，Cxi為線性感應(yīng)等效電容，Rx為鐵電薄膜樣品的 漏電導(dǎo)及損耗等效電阻，Cxs為與自發(fā)極化反轉(zhuǎn)對(duì)應(yīng)的非線性等效電容。
Sawyer-Tower電路
在理想情況下，若只考慮Cxs的作用（認(rèn)為Cxi與Rx開路）,很容易證明Uy與鐵電薄膜樣品的極化強(qiáng)度P成正比。但一般情況下，鐵電薄膜樣品同時(shí)具有漏電導(dǎo)和線性感應(yīng)電容，如果要獲得鐵電薄 膜樣品的木征電滯回線，必須在測(cè)貴過(guò)程中對(duì)樣品的漏電導(dǎo)和線性感應(yīng)電容進(jìn)行合適的補(bǔ)償，但這在實(shí)際是較難處理的。另外，此電路中外接積分電容Co的選取和精度會(huì)影響測(cè)試的度，當(dāng)然給鐵屯薄膜樣品提供的信號(hào)源U的頻率對(duì)測(cè)試結(jié)果也有很大的影響，這樣就較難對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行標(biāo)定和。
我們選用如下圖所示的測(cè)量電路，此電路由信號(hào)源U、被測(cè)樣品、電流放大器和積分器組成。信號(hào)源U提供給被測(cè)樣品的電流經(jīng)電流放大器放大再經(jīng)積分器積分后得到Uy進(jìn)入測(cè)量系統(tǒng)。即使被測(cè)樣品端加的電壓U為零，積分器上仍然維持電壓,被測(cè)樣品端是虛地的，因此，此測(cè)試電路討稱為虛地模式。此電路取消了外接電容Co,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容C1的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)貴準(zhǔn)確度。
電滯回線測(cè)量電路