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鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀的主要功能、測(cè)試范圍及測(cè)試條件綜合說明？
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀的主要功能、測(cè)試范圍及測(cè)試條件綜合說明
一、主要功能
雙參數(shù)同步測(cè)試
l 塞貝克系數(shù)：采用靜態(tài)直流法，測(cè)量材料在溫差下的熱電勢(shì)（單位：μV/K）。
l 電阻率/電導(dǎo)率：通過四端法測(cè)量電阻，計(jì)算電導(dǎo)率（單位：S/cm）。
l 數(shù)據(jù)集成分析：支持同步獲取塞貝克系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù)，直接計(jì)算熱電優(yōu)值（ZT值），用于評(píng)估材料的熱電轉(zhuǎn)換效率。
智能軟件系統(tǒng)
l 自動(dòng)完成信號(hào)激勵(lì)、數(shù)據(jù)采集、實(shí)時(shí)處理及結(jié)果輸出，支持曲線比較、一階/二階求導(dǎo)、多重峰分析等功能。
l 支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出至Excel、ASCII格式，兼容樣品溫度多點(diǎn)校正和焓變校正。
二、測(cè)試范圍
參數(shù) | 范圍 | 精度/重復(fù)性 |
溫度范圍 | RT（室溫）～1500℃ | 閉環(huán)溫控（K/S/C型熱電偶） |
塞貝克系數(shù) | 1～2500 μV/K | 準(zhǔn)確度±7%，重復(fù)性±3% |
電導(dǎo)率 | 0.01～2×10? S/cm | 準(zhǔn)確度±5~8%，再現(xiàn)性±3% |
電阻率 | 覆蓋絕緣體到導(dǎo)體全品類材料 | 四端法減少接觸誤差 |
三、測(cè)試條件
環(huán)境控制
l 氣氛類型：惰性、氧化、還原、真空環(huán)境。
l 適用場(chǎng)景：高溫合金在還原氣氛下的穩(wěn)定性測(cè)試、燃料電池催化劑的氧化環(huán)境導(dǎo)電性分析等。
l 樣品兼容性
樣品形狀：圓柱形或棱柱形：2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm、圓盤狀（10、 12.7、 25.4 mm）。
l 夾持結(jié)構(gòu)： 三明治夾持設(shè)計(jì)，探頭距離可調(diào)（4/6/8mm），確保接觸穩(wěn)定性。
l 電極材料： 鎳電極（-100～500℃）、鉑電極（-100～1500℃）。
l 長(zhǎng)期穩(wěn)定性：電源輸出0~1A，支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)（如1500℃下長(zhǎng)周期測(cè)試）。
四、典型應(yīng)用場(chǎng)景
l 熱電材料開發(fā)：半導(dǎo)體、方鈷礦等材料的ZT值計(jì)算。
l 能源器件研究：鋰電電極電阻率、固態(tài)電解質(zhì)界面特性分析。
l 惡劣環(huán)境測(cè)試：高溫超導(dǎo)材料在真空/還原氣氛下的電輸運(yùn)特性。