高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的*解決方案。

諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。

GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。

介電常數介質損耗測試儀實驗原理:

介電體（又稱電介質）zui基本的物理性質是它的介電性，對介電性的研究不但在電介質材料的應用上具有重要意義，而且也是了解電介質的分子結構和激化機理的重要分析手段之一，探索高介電常數的電介質材料，對電子工業元器件的小型化有著重要的意義。介電常數（又稱電容率）是反映材料特性的重要參量，電介質極化能力越強，其介電常數就越大。測量介電常數的方法很多，常用的有比較法，替代法，電橋法，諧振法，Q表法，直流測量法和微波測量法等。各種方法各有特點和適用范圍，因而要根據材料的性能，樣品的形狀和尺寸大小及所需測量的頻率范圍等選擇適當的測量方法。

介電常數介質損耗測試儀工作特性

1．Q值測量

a．Q值測量范圍：2～1023；

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

c．標稱誤差

	A	C
頻率范圍	25kHz～10MHz	100kHz～10MHz
固有誤差	≤5％±滿度值的2%	≤5％±滿度值的2%
工作誤差	≤7％±滿度值的2%	≤7％±滿度值的2%
頻率范圍	10MHz～60MHz	10MHz～160MHz
固有誤差	≤6％±滿度值的2%	≤6％±滿度值的2%
工作誤差	≤8％±滿度值的2%	≤8％±滿度值的2%

2．電感測量范圍

A	C
14.5nH～8.14H	4.5nH～140mH

3．電容測量

	A	C
直接測量范圍	1～460p	1～205p
主電容調節范圍	40～500pF	18～220pF
準確度	150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%	150pF以下±1.5pF 150pF以上±1%

注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

4．信號源頻率覆蓋范圍

	A	C
頻率范圍	10kHz～60MHz	0.1～160MHz
CH1	10～99.9999kHz	0.1～0.999999MHz
CH2	100～999.999kHz	1～9.99999MHz
CH3	1～9.99999MHz	10～99.9999MHz
CH4	10～60MHz	100～160MHz
頻率指示誤差	3×10-5±1個字

5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000

6．Q表正常工作條件

a. 環境溫度：0℃～+40℃；

b．相對濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。

3、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)，實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算的。 4、一個高品質因數（Q)的電感器是測量系統的輔助工具，關乎測試的靈敏度和精度，在系統中它與平板電容（BH916）構成了基于串聯諧振的測試回路。本系統推薦的電感器為LKI-1電感組，共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。

附表一,介質損耗測試系統主要性能參數一覽表
BH916測試裝置		GDAT高頻Q表
平板電容極片	Φ50mm/Φ38mm可選	頻率范圍	20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍	≥15mm	頻率指示誤差	3×10^-5±1個字
夾具插頭間距	25mm±0.01mm	主電容調節范圍	30-500/18-220pF
測微桿分辨率	0.001mm	主調電容誤差	<1%或1pF
夾具損耗角正切值	≦4×10^-4 （1MHz)	Q測試范圍	2～1023

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