UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

UV-313/340型紫外輻照計特點:

        * 光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

        * 數(shù)字液晶顯示，帶背光

        * 手動/自動量程切換

        * 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）

        * 低電量提醒

        * 自動延時關(guān)機

        * 有數(shù)字保持

        * 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

UV-313/340型技術(shù)指標：  

探頭（二選其一）：	UV-313探頭	UV-340探頭
波長范圍及峰值波長:	λ：(290～340)nm；λP＝313nm	λ：(315～370)nm；λP＝340nm
紫外帶外區(qū)雜光：	UV313：小于0.05%	UV340：小于0.05%
輻照度測量范圍：	(0.1～199.9×103) μW/cm2
相對示值誤差：	±10%（相對與NIM標準）
角度響應(yīng)特性：	±5%(α ≤10°)
線性誤差：	±1%
短期不穩(wěn)定性：	±1%（開機30min后）
響應(yīng)時間：	1秒
使用環(huán)境：	溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
尺寸和重量：	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源：	常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機功耗   ＜0.1VA