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三豐Mitutoyo影像儀 非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統。
● 可根據 WLI 光學系統獲取的 3D 數據進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。
三豐Mitutoyo影像儀 非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI
規格
型號 項目 | Hyper QVWLI 302 | Hyper QVWLI 404 | Hyper QVWLI 606 | |
測量范圍 ( X × Y × Z ) | 影像測量 | 300 × 200 × 190 mm | 400 × 400 × 240 mm | 600 × 650 × 220 mm |
| WLI 測量 * 1 | 215 × 200 × 190 mm | 315 × 400 × 240 mm | 515 × 650 × 220 mm | |
WLI 光學測頭裝置 | ||||
| 視場 ( H × V ) | 5X 鏡頭 : 約 0.64 × 0.48 mm/10X 鏡頭 : 約 0.32 × 0.24 mm/ 25X 鏡頭 : 約 0.13 × 0.10 mm/50X 鏡頭 : 約 0.064 × 0.048 mm | |||
| Z 軸重復性 | 2 σ≤ 0.08 µm | |||
| 影像光學測頭裝置 | ||||
| 觀察裝置 | 程控電動轉塔 1X-2X-6X | |||
| 圖像傳感器 | B&W CCD ( 1/2 吋 ) | |||
| 影像測量 精度 * 2 | E 1X /E 1Y | ( 0.8+2L/1000 ) µm | ||
| E 1Z | ( 1.5+2L/1000 ) µm | |||
| E 2XY | ( 1.4+3L/1000 ) µm | |||
*1 WLI 光學測頭的可移動范圍。
*2: 按照本公司檢查方法。 L 為任意 2 點間的尺寸 ( mm ) 。
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