激光多功能光電測試系統實驗儀是在系列傳感器實驗系統的基礎上發展的新型光電測試實驗系統，用于儀器科學、測試計量、自動控制以及物理等課程教學。其特點是實驗內容新穎，技術優良，功能多樣。實驗指導書提供 26 個實驗，包括激光干涉、散斑、衍射、光電、共焦、光纖、納米、圖像、偏振等多種優良測試技術，對學習者了解和掌握現代光學測試技術中的一些主要原理及方法建立基礎，達到實驗者今后應用中舉一反三的目的。

激光多功能光電測試系統實驗儀是在系列傳感器實驗系統的基礎上發展的新型光電測試實驗系統，用于儀器科學、測試計量、自動控制以及物理等課程教學。其特點是實驗內容新穎，技術優良，功能多樣。實驗指導書提供 26 個實驗，包括激光干涉、散斑、衍射、光電、共焦、光纖、納米、圖像、偏振等多種優良測試技術，對學習者了解和掌握現代光學測試技術中的一些主要原理及方法建立基礎，達到實驗者今后應用中舉一反三的目的。

隨著近代工業和現代科學技術的發展，高精度、非接觸、高效率、自動化是測試技術發展的方向，而傳統的光學及光電測試技術已不適應上述要求，在精密自動測試技術中必須注入新的活力。20 世紀 80 年代以來激光和計算機技術結合為近代光學及光電測試技術開辟了新途徑，這就是現代光學測試技術。JY-CSY－10L 是為演示近代光學測試技術而設計的一套多功能光電實驗教學儀器，很好的體現了近代光學測試技術中的非接觸性、高靈敏性、三維性及實時性。

本實驗系統主要適合于測試計量技術專業、光學專業、儀器科學相關專業、自動化專業、物理專業以及大學物理等的基礎課程教學實驗使用。由于復用光學平臺的功能多，技術優良，也可以為前期科研，本科生畢業設計，研究生論文的試驗服務。

二、 儀器原理

2.1 多功能光學系統

本實驗系統的光學原理如圖 1 所示，激光（He-Ne，波長 632.8nm，功率>3mw）通過

1－激光器 2－衰減器 3,5,11－定向孔 4,13－移動反射鏡 6,7,9,12－反射鏡 8,29

－物鏡 10－準直透鏡 14－分光棱鏡 15－共焦顯微鏡  16－多功能試件夾及組合工作臺 18－帶壓電陶瓷的組合工作臺 19,27－衍射試件夾 20－成像透鏡 21－目鏡 22

－可調光闌 23－光電接收器 24－導軌 25,28－直角棱鏡 26－傅氏透鏡 30－五維調節架 31－光纖傳感器 32－光纖夾持器 33－備用試件架

各種光學元件的切換與配置，組合成一種光學物理系統，實現定性觀察與定量測試，最終由光電接收器 23 接收，并將信號送入計算機，完成實驗內容的顯示與計算。所謂多功能， 主要由下列八部分組成：

1. Twyman-Green 干涉系統

激光 1 經衰減器 2 調節光強，小孔 3,5 定向，擴束鏡 8,10 擴束，分光棱鏡 14 分光后，

一路由工作臺 16 上試件返回，形成參考光(參考臂)，一路由工作臺 18 上試件返回形成物光

（測量臂），再返回分光鏡 14 形成干涉場，經透鏡 20 成像（透鏡 21 選裝），光闌 22 濾波（選裝）后，在 CMOS23 上形成穩定干涉圖樣，由計算機程序實現實驗顯示與定量。

T－G 干涉系統用于實驗 1～ 5。

2. 衍射測量系統

激光 1 經反射鏡 4，12，13，分光棱鏡 14 轉向，射向衍射試件（試件夾 19 中）產生衍射，經透鏡 20 會聚成像，至 CMOS23 接收，送計算機觀察，并對部分試樣實現定標與計量。

本光路用于實驗 6～9。

3. 傅氏變換光學系統(Fourier Transformation, FT; Inverse Fourier Transformation, IFT)

FT：激光 1 經定向孔 3，5 定向，透鏡 8，10 擴束，經分光棱鏡 14 透射試件夾 19 中FT 試件。試件可選位于 FT 透鏡 21 之前后、之后、前焦面等處，在透鏡后焦面前后尋找試件頻譜，成像顯示于計算機上。

IFT：激光經定向孔 3，5 定向，透鏡 8， 10 擴束，經分光棱鏡 14 透射試件夾 19 中FT 試件。試件夾 19 位于透鏡 21 前焦面，直角棱鏡 25 移入光路，光路途徑 IFT 透鏡 26， 將物體頻譜面圖像恢復成試件夾 19 中試片中圖案。

圖像處理：在 IFT 光路中插入試件夾 27，將改變 IFT 后圖像的象素與對比度。本光路用于實驗 10～12。

4. 散斑測量系統

激光 1 經定向孔 3，5 定向，透鏡 8，10 擴束，經分光棱鏡 14 分光，在工作臺 16，18 上形成兩幅相干散斑圖，返回經分光棱鏡 14 合光，透鏡 20 會聚，光闌 22 濾波，成像至CMOS23 上。

本光路用于實驗 13～15。

5. 共焦測量系統

激光 1 經定向孔 3，5 定向，透鏡 8，10 擴束，經顯微透鏡組 15 在工作臺 16 共焦試件上聚焦，聚焦光束返回透射分光棱鏡 14 恢復成平行光，繼由會聚透鏡組 20，21（選裝） 聚焦于針孔（光闌）22，并在 CMOS23 上形成彌散斑圖像。共焦試件軸向高程變化對應彌散斑圓直徑變化，經程序計算，實現定量檢測。

本光路用于實驗 16～17。

6. 納米測量光學系統

激光 1 經反射鏡 4，12，13 轉向，分光棱鏡 14 分光，工作臺 16，18 上試件折成兩束近距平行光，經透鏡 20 會聚于焦平面上一點，移動透鏡 21 使該點放大成像于 CMOS23 上， 將看到比普通干涉條紋更靈敏的納米干涉條紋，工作臺 18 上裝 PZT 驅動試片。控制 PZT 的驅動波形與干涉條紋，計數，均由計算機實現。

本光路用于實驗 18～19。

7. 光纖傳感系統

激光 1 經反射鏡 4，12，13 及工作臺 18 上平面反射鏡至物鏡 29，實現最大光強耦合， 進入干涉調制系統 31，形成兩相干光束，經光纖夾持器 32 定位，投影于 CMOS23。光纖調制電源的波形控制與干涉條紋的處理由計算機程序實現。

本光路用于實驗 20～22。

8. 激光偏振系統

激光 1 經反射鏡 4，12，13，分光棱鏡 14 轉向，射向起偏器 19，通過波片 20，21， 檢偏器 22，射入光電探測器 23（或光屏）中，通過旋轉波片和檢偏器，對光電探測器 23 的讀數進行分析，了解偏振光特性。或經 21 （反射棱鏡與黑色反射玻璃組合）三次反射產

生線偏振光，旋轉檢偏器 22 觀察了解布儒斯特角產生線偏振光的現象。

本光路用于實驗 23-26，圖中 1，2，3，4，11，12，13，14，23，24 與圖 1 相同，19- 偏振片（起偏器）（選裝） 20-波片（選裝）  21-波片/反射棱鏡與黑色反射玻璃組合（選裝） 22-偏振片（檢偏器）（選裝），19～22 器件裝在圖 1 上相同編號的底座上，位置大致相同。

2.2 光電處理與顯示

光電與計算機處理部分由圖 3 所示。上述光信息經圖像采集轉換成電信號，將此數字信號通過 USB2.0 接口送入計算機進行處理，完成實驗顯示及相應實驗的計算定量，在配套軟件的操作下完成所有實驗。