目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>SEM原位解決方案>> SEM原位解決方案——SEM納米力測量系統
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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產品描述
PicoFemto NI-100 SEM納米力測量將納米壓痕儀集成進掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進行原位納米壓痕研究。該系統由一個三維壓電驅動的樣品臺和一個納米力測量探針組成。樣品安裝方式靈活多樣，可在三維納米位移臺的驅動下，達到超過5 mm的準確定位，定位分辨率優于100 nm，以使待測量區域準確對準力探針。
力探針同樣由壓電驅動，在軸向達到100 um的伸縮長度，位移分辨率優于0.25mm。由力傳感器準確測量所施加的力的載荷，可測拉力和壓力。并有不同的最大量程的力傳感器可選配，達到很好的測量效果。通過搭配電學、光學、加熱等模塊，該產品還可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
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