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產品簡介
詳細介紹
恩德斯豪斯E+H物位信號發(fā)射器FQR50-A1GDA液體和固體顆粒連續(xù)物位測量和限位檢測，確保穩(wěn)定的產品質量、工廠安全性和經濟效率 - 這就是為什么要進行物位測量的重要原因。液體、漿料、固體顆粒和液化氣物位測量常用于儲罐、料倉和槽車。對于連續(xù)物位、界面、密度測量以及限位檢測，有多種測量原理可供選擇。Endress+Hauser為您提供從測量點規(guī)劃、調試到維護的全程服務。
Soliwave FQR50微波限位開關發(fā)射器適用于非接觸式限位檢測，可安裝容器、導管、傳動軸或自由落體軸中，也可安裝在非金屬容器外部進行測量，控制并計數(shù)各種類型的顆粒固體。可與Soliwave FDR50接收器配套使用。
E+H物位信號發(fā)射器FQR50-A1GDA優(yōu)勢
齊平式非接觸式安裝
機械部分結構堅固：- 無磨損； - 使用壽命長； - 免維護。
可在接收器上顯示信號強度。
可調靈敏度
使用R 1-1/2-或1-1/2NPT-螺紋，安裝方便
符合ATEX1/2GD與IECEx標準
應用領域
Soliwave微波限位開關適用于非接觸式限位檢測，可安裝容器、導管、傳動軸或自由落體軸中，也可安裝在非金屬容器外部進行測量，控制并計數(shù)各種類型的顆粒固體。
典型測量的顆粒固體包括:E+H物位信號發(fā)射器FQR50-A1GDA
木屑、木粉與面粉
石膏、水泥與石灰
紙張及硬紙片，碎石與沙粒，常見的干粉，袋狀或盒狀包裝體等
測量原理
微波隔柵 特點/應用
非接觸測量的微波變送器 電源/通信
變送器 環(huán)境溫度
- -40 ... +60℃
過程溫度
外部微波發(fā)射（非接觸式）：任何溫度；安裝范圍內的微波發(fā)射（接觸式）：-40 ... +80℃ 過程絕壓/zui大過壓界限
外部微波發(fā)射（非接觸式）：任何溫度 zui小被測介質密度
固料重量>10g/l 接觸介質部件
非接觸式 過程連接
"1-1/2" G + NPT或微波從外部發(fā)射/外部安裝，金屬材質的罐壁" 衛(wèi)生型過程連接
外部微波發(fā)射（非接觸式） 輸出
DPDT繼電器 證書和認證
ATEX 可選項
法蘭 應用局限
外部微波發(fā)射（非接觸式），固料重量>10g/l 組件
接收器：FDR50；變送器：FTR325, FTR471 其他
FQR56 E+H物位信號發(fā)射器FQR50-A1GDA
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