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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
技術(shù)特點(diǎn)
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。
· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。
· 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái)，可以進(jìn)行最大350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測定。
· 采用強(qiáng)大的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)，可對應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴(kuò)大應(yīng)用范圍。
MAXima_X XRD-7000
 高精度樣品水平型測角儀S 配備具有0.0001°較小步進(jìn)的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（較大350mmφ樣品）和通用的S型。 · 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精細(xì)化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。 · 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái)，可以進(jìn)行350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測定。 |
