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粉末x射線衍射儀原理與特點介紹
閱讀：1665 發布時間：2015-7-16
粉末x射線衍射儀是利用衍射原理,測定物質的晶體結構,織構及應力,的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。
粉末x射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
•配備高精度垂直型測角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
•XRD-6100具有本質安全結構。
•只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。
•配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
•驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之有效。
•備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。