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TSI 公司舉辦“大氣環境顆粒物、超細顆粒物檢測技術交流會”
閱讀：5269 發布時間：2017-2-17
美國TSI在廣西南寧舉辦了"大氣環境顆粒物、超細顆粒物檢測進行技術交流會"，此次交流會邀請了當地的環境監測部門、高校科研機構和當地儀器代理商。TSI公司現場介紹和展示了大氣氣溶膠檢測的系列產品，特別是關于1nm 掃描電遷移率粒徑譜儀，該款產品將氣溶膠研究和檢測提升到新的一個量級。交流會還就氣溶膠粒徑譜在關于灰霾源解析和常規大氣環境監測中的重要作用進行探討以及對粒徑譜監測數據收集和處理進行了交流。交流會后還參觀了廣西環科院大氣PM2.5研究監測站。
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TSI推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。
3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些*的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。
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TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設計的經驗，本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的性。該產品是廣大環境研究機構和環境監測部門進行顆粒物監測分析和源解析的*儀器。
關于TSI公司
TSI公司研究、確定和解決各種測量問題，為市場服務。作為精密儀器設計和生產的行業，TSI與世界各地的科研機構和客戶合作，確立與氣溶膠科學、氣流、健康和安全、室內空氣質量、流體力學及生物危害檢測有關的測量標準。TSI總部位于美國，在歐洲和亞洲設有代表處，在其服務的各個市場建立了機構。每天，我們專業的員工都在把科研成果轉化成現實。