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鍍層厚度檢測的3種主要方法

閱讀:5100      發(fā)布時(shí)間:2020-4-26
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    鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。檢測方法有 1. 金相法 2. 庫侖法 3. X-ray方法。

金相法:

采用金相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um,才能保證測量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大,誤差越小。

庫侖法:適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法,包括測量多層體系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度,還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、ZnCu、Ni、dNi、Cr

X-ray方法:

適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。

 

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