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更新時間:2016-03-24 14:48:44瀏覽次數:719
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日本TECLOCK得樂卡規GM
日本TECLOCK得樂大量程外
日本TECLOCK得樂表盤式外
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日本TECLOCK得樂外卡規G
日本TECLOCK得樂表盤式外測卡規GM-20
外盤游標卡尺
和大型工件與厚度測量被認為是困難的,外尺寸,例如變體產物可以直接測量。
形狀,請根據測量深度進行選擇。
定制生產也是可能的。
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