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當前位置：成都恒通興業科技有限責任公司>>無損檢測設備>>超聲波測厚儀>> LEPTOSKOP2042NFE德國KD卡爾德意志LEPTOSKOP2042NFE統計型涂層測厚儀,測厚儀
Magna-Mike 8600測厚儀，便攜式測厚儀,壁厚測厚儀
成都恒通興業科技有限責任公司專業為您推薦德國KD卡爾德意志LEPTOSKOP2042NFE統計型涂層測厚儀
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀簡介：
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術和簡單的操作方法，是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現場迅速的升級。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統相結合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經濟的產品，電池壽命長，可以連續工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數量，因此一些重要的參數可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內，可以保護儀器在工業環境中意外滑落不受損害。
LEPTOSKOP2042技術參數：
數據傳輸接口RS232 或 USB
電源：電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度: 每秒測量2個數值
存儲: zui多 9999 個數值，140個文件
誤差:
涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數 +/- 1 um (校準后)
涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數 +/- 1 um
涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數 +/- 10 um
涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的讀數或全部文件傳輸到Windows
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