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箱式高溫電阻爐的使用方法
閱讀:1822發(fā)布時間:2021-8-23
XRF歸納之X射線熒光光譜分析概述
X射線熒光光譜分析(XRayFluorescence,XRF)是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測手段,也是一種重要的表面/表層分析方法。
XRF測試作為常用測試之一,但仍有許多同學不太了解,本篇文章由科學指南針科研服務平臺給大家介紹X射線熒光光譜分析概述。
X射線熒光光譜分析(XRayFluorescence,XRF)是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測手段,也是一種重要的表面/表層分析方法。由于整體技術(shù)和分光晶體研制發(fā)展所限,早期的X射線熒光光譜儀檢測范圍較窄,靈敏度較差。隨著測角儀、計數(shù)器、光譜室溫度穩(wěn)定等新技術(shù)的進步,使現(xiàn)代X射線熒光光譜儀的測量精密度與準確度有了較大改善。特別是人工合成多層膜晶體的開發(fā)應用使輕元素鈹、硼、碳、氮、氧等的X射線熒光光譜分析分析成為可能,這類晶體是由低原子序數(shù)和高原子序數(shù)物質(zhì)以納米級厚度交替疊積而成,其層間厚度可以人工控制,如OVO-B晶體的間距為20納米,適用于硼和鈹?shù)姆治觥S捎赬射線管的功率增大,鈹窗減薄,X射線管與樣品的距離縮短,為輕元素分析配備了超粗準直器,降低了元素的檢出限,技術(shù)發(fā)展使現(xiàn)代X射線熒光光譜儀的檢測范圍可達到4Be(鈹)~92U(鈾),對元素的檢測范圍為10-6%~100%。
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