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供應信息
Rtespa 300-Bruker布魯克AFM探針 輕敲模式
AFM探針-Rtespa-Bruker原子力探針 輕敲模式Rtespa 300
Bruker-ScanAsyst Air-原子力探針 智能成像模式ScanAsyst Air
BRUKER-OLTESPA-Bruker 原子力探針-輕敲模式 OLTESPA-R3
ScanAsyst Air-布魯克Bruker原子力探針 智能成像模式
AFM-SNL 10-Bruker原子力探針 智能成像模式SNL 10
AFM探針-DDESP-10-布魯克/原子力探針/導電探針DDESP-10
BRUKER-DDESP-10-布魯克/原子力探針/導電探針/AFM探針
布魯克BEUKER-輕敲模式探針,RTESPA-300,TESP,FESP
布魯克BEUKER-接觸模式:SNL,NP
AFM-ScanAsyst-fluid-智能掃描模式:ScanAsyst-fluid系列
AFM-ScanAsyst-fluid-磁力顯微鏡探針,MESP-V2,MESP-RC-V2
AFM-ScanAsyst-fluid-電學測量探針,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC
亞科-RAITH多功能電子束曝光系統eLINE Plus
CRESTEC-超高分辨率電子束光刻EBL(CABL-UH series)
亞科-Electron Beam Lithography System(EBL)
亞科-多功能電子束曝光系統PIONEER Two
RAITH-EBPG5150-電子束直寫系統 EBPG5150
RAITH- EBPG5200-高性能電子束曝光機EBPG5200
CRESTEC-電子束直寫系統 CABL-9000C series
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聯系人:紹兵 (銷售經理)
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公司網站: www.astchina.com
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