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原子力顯微鏡 參考價：面議
準確成像, 無交叉耦合現象 業界*的XYZ軸線性度，樣品和探針分別由獨立的柔性制導掃描器控制移動 Z低的平面偏移度，全程水平掃描時平面偏移量不超過1納米 垂直掃...
原子力顯微鏡 參考價：面議
- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。- 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM）。- 倒置光學顯微...
原子力顯微鏡 參考價：面議
在同級產品中，Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃...
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