為期三天的Semiexpo Shenzhen 2019深圳半導體展覽會已于2019年6月16日于深圳會展中心圓滿閉幕。
欣逢盛會，優尼康科技攜數臺產品赴會。其中Profilm3D光學輪廓儀，其低成本，高精度，超大的視場范圍面積，讓光學輪廓測量變得容易承受；Filmetrics F50反射式膜厚儀，簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。非常快速的定位測試的點，快速測試厚度。Filmetrics F20薄膜厚度測量系統，其高，性價比高。
展會期間，作為薄膜厚度與表面輪廓測量，我司技術人員為蒞臨展位的客戶詳細解答各種疑難問題，與新老客戶進行了十分愉快的溝通與交流。贏得了新老客戶的*。
在未來的發展路上，我司會以赴，將我們經營理念“真誠，專注，信賴”服務于大家。
展會現場
優尼康盤總現場接受CCTV采訪
參展人員合影留念
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