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LW400LJT芯片檢查顯微鏡
主要技術參數：
1． 鏡筒：三目觀察筒,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換)， 雙目瞳距調節范圍：53~75mm
2． 目鏡：大視野10X/22mm
3． 無限遠長工作距離平場消色差物鏡（無蓋玻片)
PL5X/ 0.12工作距離 26.1mm
PL 10X/ 0.25工作距離 20.2 mm
PL 20X/ 0.40工作距離8.80mm
PL 50X/ 0.70工作距3.685mm
PL 80X/ 0.80工作距離1.25mm
4．落射照明系統：6V20W鹵素燈,亮度可調
內置視場光闌、孔徑光闌、濾色片（藍、黃、綠、磨砂）轉換裝置，推拉式檢偏器與起偏器
5．調焦機構：粗微動同軸調焦, 微動格值0.7μm,帶鎖緊和限位裝置
6．轉換器：五孔(內向式滾珠內定位)
7．載物臺：尺寸：280mm*270mm，移動范圍：（X）204mm*（Y）204mm
8．透射照明系統： 阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降
9．濾色片：藍濾色片和磨砂玻璃
10、偏光裝置： 起偏振器，可360度旋轉，可推拉切換
檢偏振器，可推拉切換
LW400LJT芯片檢查顯微鏡
選購件：
1.無限遠長工作距離平場消色差物鏡（無蓋玻片)
PL60X /0.75工作距離1.9 mm
PL100X（干式）/ 0.85工作距離0.35 mm
用途：
LW400LJT適用于對不透明物體的顯微觀察及8寸芯片觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察、暗場觀察等功能，緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。
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