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DUALSCOPE MP0/MPO測厚儀
體積小巧，功能強大：
MP0和MP0R系列的非破壞性測量儀器可以快速確定涂層厚度，并以FISCHER的精度達到預期的程度。憑借其兩個背光LCD和耐磨探頭，這些緊湊輕便的儀器是現場應用的理想伴侶。樣品的幾何和滲透性對測量結果的影響相對較小。此外，這些儀器具有非磁性基板材料的導電補償。表面是否粗糙或光滑，可以測量薄涂層。儀器根據磁感應法（PERMASCOPE，用于鐵基底測量），渦流法（有色金屬基體的ISOSCOPE）或兩者（DUALSCOPE）進行操作：鋁或鐵是否自動檢測基材由DUALSCOPE的測量系統選擇適當的測量方法。
DUALSCOPEMP0測厚儀：
DUALSCOPE MP0輕松，快速，非破壞性地測量涂層厚度（在0-2000μm范圍內），具有zui高的精度和精度。儀器顯示平均值，標準偏差，MIN，MAX和每個程序段的測量次數。儀器啟用帶有自動轉動顯示的圖形顯示，以便在許多不同的儀器位置讀取測量結果。的非磁性基板材料測量電導率補償。樣品的形狀和滲透性對測量結果的影響較小。
-DUALSCOPE MP0：
基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合（磁感應/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。
技術參數：
量 程：0～2000μm。分辨率：0.00um
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。
重復精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
zui小測量曲率直徑：在精度范圍內，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
（在允許誤差＜10%時，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）。
zui小測量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時，為φ2mm）。
zui小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時）。
重 量：60g（不含電池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電 源：兩節5號電池。
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