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當前位置：> 供求商機> FMP100高品質系列膜厚儀--Fischer代理
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型號：
DUALSCOPE FMP100
自動識別基材，將兩種測量法相結合（磁感應/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測量。
| 儀器平臺 | 應用軟基基于MS Windows CE |
| 顯示器 | 明亮圖形顯示器（彩色、觸摸屏） |
| 鍵盤/操作 | 4個薄膜開關，軟鍵盤，***多12個軟鍵 |
| 探頭連接器 | 10針插座 |
| 通訊界面 | USB4（型號：Mini-AB）連接打印機或PC |
| 內存 | 256MB，用于應用程式和測量數據 |
| 統計 | 平均值、標準偏差、Cp、Cpk，全部數據統計、直方圖、總頻率 |
| 安全機制 | 應用程式和系統密碼保護，自動儲存數據 |
| 數據輸出 | PDF格式的測量數據打印，測量數據以ASCII格式傳輸到PC |
| 語言 | 中文、英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、日文 |
| 電源 | 電池/可充電電池，或者AC適配器110/230 VAC3 |
| 尺寸/重量 | 89×40×170（W×D×H,mm），大約395g（不包含探頭） |
| 操作/運輸 | 背帶，儀器支持架（折疊式設計） |
| 操作溫度 | 10～40℃ |
影響測量值的因素與解決方法
使用Fischer測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的Fischer測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹。
1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點的覆層厚度，只有預先在相同條件的無覆層表面進行校準，才能測量。(注：的產品有透過覆層校準的*功能可達3～10%的精度)
2.基體表面曲率在一個平直的對比試樣上校準好一個初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個初始值。或參照下條。
3.基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個給定的zui小厚度，使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質有關，在這個厚度之上剛好可以進行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”。
5.探頭測量板的作用力探頭測量時的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發生形變，以致測量值下降。活產生大的波動，必要時，可在兩者之間墊一層硬的，不導電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。
6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應該避免在有干擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁，根據檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差，但是如結構鋼，深沖成形鋼板等一般不會出現上述現象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導電成份覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時，會對測量值產生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性，經校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。
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