菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

一、儀器概述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。該儀器具備強大功能，可用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，還能對大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層進行檢測。

二、性能優勢

1. 穩定性佳：XDL 230 擁有良好的長期穩定性，無需頻繁校準儀器，為用戶節省時間與精力。

2. 測量精準：比例接收器能夠實現高計數率，從而保障高精度測量，確保數據的可靠性。

3. 測量靈活：采用 FISCHER 基本參數法，無論是鍍層系統，還是固體和液體樣品，在沒有標準片的情況下，儀器都能進行測量和分析。

三、適用場景

菲希爾X射線測厚儀XDL 230 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控，其典型應用領域如下：

• 測量大規模生產的電鍍部件；

• 測量超薄鍍層，例如裝飾鉻；

• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層；

• 測量印刷線路板；

• 分析電鍍溶液。