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德國菲希爾臺式測厚儀X射線XDL系列信息
閱讀：253 發布時間：2025-4-15X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240
FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL系列儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有:
測量大規模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如:裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍溶液
XDL系列儀器有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了FISCHER基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。