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產品簡介
詳細介紹
缺陷檢測原理
電致發光亮度正比于少子擴散長度：
對太陽能電池/組件加載電壓后，使之發光，再利用近紅外相機攝取其發光
影像，因電致發光亮度正比于少子擴散長度，缺陷處因具有較低的少子擴散
長度而發出較弱的光，從而形成較暗的影像。
有效定位缺陷類型：
通過對產品缺陷圖像的觀察 通過對產品缺陷圖像的觀察，可以有效的發現硅片 可以有效的發現硅片、擴散、刻蝕、印刷、燒結等工藝過程存在的問題，方便進行分析以及問題的解決，對提高產品質量
和產品效率，改善工藝和穩定產量起到了的幫助作用。
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2023-02-23 09:43:30瀏覽次數：3170
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缺陷檢測原理
電致發光亮度正比于少子擴散長度：
對太陽能電池/組件加載電壓后，使之發光，再利用近紅外相機攝取其發光
影像，因電致發光亮度正比于少子擴散長度，缺陷處因具有較低的少子擴散
長度而發出較弱的光，從而形成較暗的影像。
有效定位缺陷類型：
通過對產品缺陷圖像的觀察 通過對產品缺陷圖像的觀察，可以有效的發現硅片 可以有效的發現硅片、擴散、刻蝕、印刷、燒結等工藝過程存在的問題，方便進行分析以及問題的解決，對提高產品質量
和產品效率，改善工藝和穩定產量起到了的幫助作用。