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粒度分析儀在陶瓷制造中的應用
閱讀：1940發布時間：2020-3-24
對陶瓷制造來講，原料是基礎，成形是條件，燒成是關鍵。各種陶瓷原料由于成因不同、地質條件不同，導致其化學成分、礦物組成、工藝性容易出現波動，從而影響產品的質量，因而原料的合理選擇和科學分析對陶瓷生產來說至關重要。陶瓷粉體的檢測在許多方面取決于初始粉體的功用，其物理化學性質將抉擇陶瓷材料結束的顯微結構和格外功用。
粒度分布是粉體*的一種性質，也是決定粉體行為與屬性的重要物理性質。因此，在處理粉體時必須進行粒度分布的分析。常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學沉積儀及X射線沉積儀等，其中激光粒度分析儀測量方便快捷、重現性高，能很好的測出樣品的粒度分布曲線和集中度，越是球狀顆粒，測量的越，因而廣泛適用于材料、化工、制藥、精細陶瓷、造紙、化妝品、冶金等以顆粒物作為生產原料的行業，以及中間體的實驗室分析和工業生產中質量控制等諸多領域。
粉體質量是制備高功用陶瓷材料的基礎，組成粉體的固體顆粒其粒徑大小對粉體系統的性質有很大的影響。當前測定顆粒粒度的方法和裝置很多，但由于其對粒徑測定的原理各不相同，因此對同一種物料用不同的方法測試，所得的結果可能也會不同，通常對陶瓷原料的粒度進行科學檢驗更多的是采用激光粒度分析儀。激光粒度分析儀是利用顆粒對光的散射(衍射)現象測量顆粒大小的，即光在行進過程中遇到顆粒(障礙物)時，會有一部分偏離原來的傳播方向，顆粒尺寸越小，偏離量越大；顆粒尺寸越大，偏離量越小。
陶瓷材料的制備通常要經過3個技能進程：材料制備、坯體成形和燒成技能，粒度及分布狀況與材料的加工時間、坯體的致密度大小、燒成溫度的凹凸一級有關。干壓成形的粉料和注漿成型漿料都有顆粒存在，陶瓷色釉中也存在粉狀顆粒，所謂陶瓷粉體是許多固體粒子的集結系統。材料的顆粒粒度配比對產品的強度和技能功用有較大的影響，格外是在其燒結時發作的改動，激光粒度分析儀可根據該值判定其技能特征和制品功用，終選用細磨粉體經不相同方法成型制品。
在陶瓷原料方面，隨著納米技術的應用日益廣泛，近百年來又出現了許多新的陶瓷品種。它們不再使用或很少使用粘土、長石、石英等傳統原料，而是使用其他特殊原料，甚至擴大到非硅酸鹽、非氧化物的范圍，并且出現了許多新的工藝。原料性能的大幅度波動，給工藝控制和質量管理帶來了很大的困難。對企業而言，除了可以利用料倉堆料流程對企業自身原料進行標準化處理外，更多著力點或許在于陶瓷原料的產品分析、檢測標定，對原料進行入廠檢驗等方面，同時根據陶瓷原料的波動，調整配方、試燒配方、確定配方。嚴格的監管規則及良好的生產規范將利于陶瓷制造行業的良性發展。
粒度分布是粉體*的一種性質，也是決定粉體行為與屬性的重要物理性質。因此，在處理粉體時必須進行粒度分布的分析。常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學沉積儀及X射線沉積儀等，其中激光粒度分析儀測量方便快捷、重現性高，能很好的測出樣品的粒度分布曲線和集中度，越是球狀顆粒，測量的越，因而廣泛適用于材料、化工、制藥、精細陶瓷、造紙、化妝品、冶金等以顆粒物作為生產原料的行業，以及中間體的實驗室分析和工業生產中質量控制等諸多領域。
粉體質量是制備高功用陶瓷材料的基礎，組成粉體的固體顆粒其粒徑大小對粉體系統的性質有很大的影響。當前測定顆粒粒度的方法和裝置很多，但由于其對粒徑測定的原理各不相同，因此對同一種物料用不同的方法測試，所得的結果可能也會不同，通常對陶瓷原料的粒度進行科學檢驗更多的是采用激光粒度分析儀。激光粒度分析儀是利用顆粒對光的散射(衍射)現象測量顆粒大小的，即光在行進過程中遇到顆粒(障礙物)時，會有一部分偏離原來的傳播方向，顆粒尺寸越小，偏離量越大；顆粒尺寸越大，偏離量越小。
陶瓷材料的制備通常要經過3個技能進程：材料制備、坯體成形和燒成技能，粒度及分布狀況與材料的加工時間、坯體的致密度大小、燒成溫度的凹凸一級有關。干壓成形的粉料和注漿成型漿料都有顆粒存在，陶瓷色釉中也存在粉狀顆粒，所謂陶瓷粉體是許多固體粒子的集結系統。材料的顆粒粒度配比對產品的強度和技能功用有較大的影響，格外是在其燒結時發作的改動，激光粒度分析儀可根據該值判定其技能特征和制品功用，終選用細磨粉體經不相同方法成型制品。
在陶瓷原料方面，隨著納米技術的應用日益廣泛，近百年來又出現了許多新的陶瓷品種。它們不再使用或很少使用粘土、長石、石英等傳統原料，而是使用其他特殊原料，甚至擴大到非硅酸鹽、非氧化物的范圍，并且出現了許多新的工藝。原料性能的大幅度波動，給工藝控制和質量管理帶來了很大的困難。對企業而言，除了可以利用料倉堆料流程對企業自身原料進行標準化處理外，更多著力點或許在于陶瓷原料的產品分析、檢測標定，對原料進行入廠檢驗等方面，同時根據陶瓷原料的波動，調整配方、試燒配方、確定配方。嚴格的監管規則及良好的生產規范將利于陶瓷制造行業的良性發展。
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