大屏幕顯示測量系統 SS445

型號：SS445

品牌：Microvision

描述：SS445系統是專門為大屏幕投影顯示測量而設計一款產品，適用于所有投影技術，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計算機控制的Pan & Tilt定位系統，從而移動到所需的測試點，配置的140萬像素CCD相機，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進行測量，從而更好地表征用戶體驗。大屏幕顯示測量系統 SS445

產品亮點： 

l適合超大屏幕測量

l基于觀測者角度測量，更好地表征用戶體驗

l多功能集合體，設計緊湊

l包含集成信號源

l具備MV remote模式，通過WiFi連接和測量移動設備

l自動化測試

l程序自動控溫，精確測量

l包含MV系統軟件，操作界面友好

l提供完整測試方案

l用戶可自定義客制化測試

lNIST可溯源校準 

應用范圍： 

l投影顯示 - DLP、LCOS、家用投影、影院投影、后屏投影儀、仿真器等

l平板顯示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

lCRT顯示 - 單色，彩色，高分辨率醫學顯示器

升級選項： 

l精準位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實現自動測試） 

l提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）

技術參數： 

CCD相機

圖像傳感器：1392x1040 像素

數字視頻：12-位 

元件尺寸：6.45 μm/像素

同步性：同步捕獲

濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND

標準鏡頭：25mm C mount, f1.6 - f16

視場：20mm@1m,可調節

工作距離范圍：0.5~3.5 m

亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A

亮度范圍：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND濾鏡）

測量時間：對于多數測量<1 sec

Spectrometer + Goniometer 光譜輻射計+測角儀

測角儀傾斜角：0~85°

測角儀方位角：0~360°

波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)

亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m2

亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A

亮度重復率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m2靈敏度@ 3% RSD

色彩準確度：± 0.002 @ 2856K Ill.A

色彩重復率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A

溫度管理：電腦自動控制

光學器件：12mm 準直 

視場角：1.5°

數字分辨率：16 bit A/D

積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)

光學分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫

校準：NIST可追溯 

操作溫度：5~ 30℃

Pan & Tilt 位移臺

分辨率：0.0032°

載荷量：9 lbs

測試案例