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詳細(xì)摘要： EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻，最大可達(dá)300×300平方毫米（12×...

詳細(xì)摘要： EddyCus map C2C全自動電阻率成像系統(tǒng)用于晶圓襯底或外延片的全面積表征，以確保半導(dǎo)體行業(yè)的工藝可靠性和質(zhì)量保證。該系統(tǒng)配備了兩個在傳輸模式下工作的非...

詳細(xì)摘要： EddyCusTF lab 2020電阻率測量儀可以對導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動單點測量，并以非接觸模式對薄金屬層進(jìn)行層厚測量。這個緊湊的臺式設(shè)備是快速和準(zhǔn)確測量200 ...

詳細(xì)摘要： Radiant PiezoMEMS薄膜壓電分析儀將數(shù)字、模擬和通信電路功能與已有的精密Multiferroic非線性材料測試儀相結(jié)合，所有這些功能都由Radia...

詳細(xì)摘要： 四探針面電阻測量儀SD-800采用四探針接觸式原理，用于測量導(dǎo)電膜層的面電阻，探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易 劃傷膜層。儀器有多個量程范圍可自動選擇，以O(shè)h...

詳細(xì)摘要： 非接觸式面電阻測試儀Statometer G采用感應(yīng)式測量原理，無探針接觸導(dǎo)電膜層，既可測量表面導(dǎo)電也可測量表面不導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃和導(dǎo)電膜層，是目前Low-E鍍膜...