Z掃描技術是一種簡單且流行的實驗技術，用于測量材料的強度相關非線性磁化率。

Holmarc的Z掃描系統（型號：HO-ED-LOE-03）是z掃描技術的簡單實現，可用于表征光學材料。

實驗范例

    測量材料的強度依賴性非線性磁化率

與z-掃描相關的兩個可測量量是非線性吸收和非線性折射。這些參數與三階非線性磁化率的虛部和實部相關，并提供有關材料特性的重要信息。

特征
 

    表征光學材料的非線性特性

    光譜響應范圍為320-1100nm的光電探測器

    黑色陽極氧化機械零件

    光學面包板使系統靈活

    高精度光學

    用戶友好軟件

此款產品不用于醫療，不用于臨床使用，此產品僅用于科研使用。