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高低溫探針臺 TC  WAFER  晶圓測溫系統(tǒng)

探針臺是一種精密的電子測試設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。       探針臺的主要功能是進行精密電氣測量，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，同時也能縮減研發(fā)時間和降低制造工藝的成本。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試，實現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。

探針臺通常包括載物臺、光學元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分，   此外，探針臺也用于網(wǎng)絡(luò)測量的工具，可以測量網(wǎng)絡(luò)的延遲時間、吞吐量和丟包率等指標，從而評估網(wǎng)絡(luò)的性能和可靠性。

TC-WAFER晶圓測溫系統(tǒng)應(yīng)用于高低溫晶圓探針臺，測量精度可達mk級別，可以多區(qū)測量晶圓特定位置的溫度真實值，也可以精準描繪晶圓整體的溫度分布情況，還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過程中晶圓發(fā)生的溫度變化，了解升溫、降溫以及恒溫過程中設(shè)備的有效性。

智測電子還提供整個實驗室過程的有線溫度計量，保證溫度傳感器的長期測量精度。

合肥智測電子致力于高精度溫測、溫控設(shè)備的生產(chǎn)和研發(fā)定制，為半導(dǎo)體設(shè)備提供可靠的國產(chǎn)解決方案