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原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀
原裝美國Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀
F10-AR
易于使用而且經濟有效地分析減反涂層和鏡頭上的硬涂層
F10-AR 是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的臺儀器。 雖然價格大大低于當今絕大多數同類儀器，應用幾項*進技術， F10-AR 使線上操作人員經過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量。
在用戶定義的任何波長范圍內都能進行和平均反射測試。
我們有專門的算法對硬涂層的局部反射失真進行校正。 我們*的 AutoBaseline 能地增加基線間隔，提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的度。
利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級能測量 0.25-15um 的硬涂層厚度。 在減反層存在的情況下也能對硬涂層厚度進行測量。
無須處理涂層背面 原裝美國Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀
我們的探頭設計能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射，使用更厚的鏡頭抑制的更多。
就像我們所有的臺式儀器一樣，F10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數分鐘內即可完成設定。
原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀
包含的內容：
- 集成光譜儀/光源裝置
- FILMeasure 8 軟件
- FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數據分析)
- CP-1-1.3 探頭
- BK7 參考材料
- 整平濾波器 (用于高反射基板)
- 備用燈
額外的好處：
- 每臺系統內建超過130種材料庫, 隨著不同應用更超過數百種
- 應用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）
- 網上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯網)
- 硬件升級計劃
