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深圳市秋山貿易有限公司
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公司信息
非接觸式：渦流法測定-日本napson電阻測量儀EC-80
2020-12-8 閱讀(2070)
渦流法主要用于非接觸式，可測量1E-3（1m）至1E + 4（10k）Ω/□電阻范圍。
它可用于半導體，化合物半導體，液晶和新型碳基材料等廣泛領域的測量。
渦電流測量系統使用電磁感應產生的渦電流來測量電阻。
非接觸式測量探頭單元的探頭芯（磁性材料）在兩側（上下）以一定的間隙排列。
<非接觸式測量探頭單元的結構>
●在渦流法中，按照以下步驟進行測量。
（1）當在探針芯之間施加高頻以產生磁通量并且插入樣本時，樣本中產生渦流。
（2）此時，（1）渦電流流過樣品→（2）樣品中消耗了電流，發生了功率損耗。
→③電路中的電流成比例降低。檢測該減小的電流值。
（3）由于檢測到的電流值與樣品的電阻成反比關系，請使用此值。
座電阻或電阻是從電流值和座電阻的校準曲線（計算公式）得出的。
（*計算電阻時需要樣品厚度信息）
緊湊且易于操作的手動非接觸式（渦流法）電阻測量儀
產品名稱：EC-80
產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）
產品特點
- 一種簡單的測量儀器，只需在探針之間插入樣品即可進行測量
- 在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換
- 使用JOG撥盤輕松設置測量條件
- *由于探頭是固定的，因此在購買前可以從幾種探頭中選擇一種。
測量規格
測量目標
半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導體相關的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[抗頁電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
日本napson電阻測量儀EC-80
