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產品簡介
新系統集成了布魯克*的PeakForceTapping，可實現高效的力控制，易用性高，采用行業的QITM模式，可在軟樣品上實現高分辨率納米力學。基于JPK在AFM與*光學技術相結合方面的先鋒作用，NanoWizard 4 XP顯微鏡系統提供當前z高無縫集成技術水平，包括相位對焦、DIC、共聚焦或旋轉盤顯微鏡、單分子方法、超分辨率技術、、拉曼和多光子等。
詳細介紹
關于JPK NanoWizard 4 XP
除了PeakForce Tapping和QI模式，NanoWizard 4 XP還配備了JPK的下一代Vortis 2高速、高性能控制電子設備。Vortis 2具有低的噪音水平和zui高的信號處理速度，旨在滿足所有操作人員經驗水平的需求。基于工作流程的新型軟件GUI可提供指導、自動設置和工作區分配，能快速提供結果并提高生產力。其NestedScannerTM技術使AFM掃描速度達到每秒150線，對于大型掃描儀系統來說這是前suo未有的，同時該技術還能保持對所有三個軸內任何位置的訪問。無論樣本采取何種方式，研究人員都可以*訪問動態，提供與同步光學顯微鏡的真正協同作用。NanoWizard 4 XP配備了多的配件，是市場上功能多的Bio-AFM系統，為新穎的應用和實驗提供了出色的靈活性。
