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PHI X-tool 飛行時間二次離子質譜儀
PHI X-tool 飛行時間二次離子質譜儀一束高能初級離子轟擊樣品表面激發出原子和分子碎片只一小部分激發出的粒子以離子的狀態離開表面，被質量分析器探測出來對于...

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/11/5 14:02:33 對比

飛行時間二次離子質譜儀ULVAC-PHIPHI nano TOF 3+
美國PHI 高性能飛行時間二次離子質譜儀
美國PHI 高性能飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS 中，根據分子結構反映的質譜，能更詳細的對化學結構進行分析。

型號： 02 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/11/5 13:46:03 對比

飛行時間二次離子質譜儀ULVAC-PHIPHI nano TOF 3+
PHI X射線光電子能譜儀
PHI X射線光電子能譜儀PHI Genesis 500是新一代配置了全自動多功能掃描聚焦X 射線光電子能譜，易操作式多功能選配附件，能夠實現全自動樣品傳送停放...

型號： PHI Genes... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/10/28 10:40:13 對比

俄歇電子能譜儀ULVAC-PHIPHI X射線光電子能譜儀
飛行時間二次離子質譜儀
飛行時間二次離子質譜儀PHI nano TOF3+，先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區分析能力，更加出色的分析精度詳細介紹PHI nanoTOF3+ ...

型號： PHI nano ... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/10/28 10:28:19 對比

飛行時間二次離子質譜儀ULVAC-PHIPHI nano TOF 3+
俄歇電子能譜儀
俄歇電子能譜儀PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設計的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區域,超薄薄膜和多層結構表界面的元...

型號： PHI 710 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/10/28 9:09:19 對比

俄歇電子能譜儀ULVAC-PHI
PHI 硬X射線光電子能譜儀
PHI 硬X射線光電子能譜儀主要應用于電池、半導體、光伏、新能源、有機器件、納米顆粒、催化劑、金屬材料、聚合物、陶瓷等固體材料及器件領域。用于全固態電池、半導體...

型號： PHI Genes... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/10/27 13:49:13 對比

PHI 硬X射線光電子能譜儀ULVAC-PHI

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