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產品簡介
詳細介紹
紫外輻照計 紫外輻照度測量儀
型號：WH/UV-A
北京紫外輻照度測量儀該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
北京紫外輻照度測量儀主要性能指標：
* 波長范圍及峰值波長(二者擇其一)
（1）UV－365探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(320～400)nm； λP＝365nm
（2）UV－420探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測量范圍
(0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區雜光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 準確度
±10％
* 響應時間
1秒
* 使用環境
溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
6F22型9V積層電池一只
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
主要性能指標：
* 波長范圍及峰值波長(二者擇其一)
（1）UV－365探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(320～400)nm； λP＝365nm
（2）UV－420探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測量范圍
(0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區雜光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 準確度
±10％
* 響應時間
1秒
* 使用環境
溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
6F22型9V積層電池一只
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
主要性能指標：
* 波長范圍及峰值波長(二者擇其一)
（1）UV－365探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(320～400)nm； λP＝365nm
（2）UV－420探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測量范圍
(0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區雜光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 準確度
±10％
* 響應時間
1秒
* 使用環境
溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
6F22型9V積層電池一只
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
主要性能指標：
* 波長范圍及峰值波長(二者擇其一)
（1）UV－365探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(320～400)nm； λP＝365nm
（2）UV－420探頭（光譜響應曲線見圖）
λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測量范圍
(0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區雜光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 準確度
±10％
* 響應時間
1秒
* 使用環境
溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
6F22型9V積層電池一只