快速溫變試驗箱 高低溫變化循環(huán)箱

設(shè)備描述：

該產(chǎn)品適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的所需測試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學(xué)校，工廠，研位，等單位.

快速溫變試驗箱 高低溫變化循環(huán)箱

型號：TEB-225PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行與滿足標準
GB11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗A;低溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗B;高溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗N;溫度變化（IEC60068-2-14）
GJB150.3A-2009設(shè)備實驗室環(huán)境試驗方法第3部：高溫試驗
GJB150.4A-2009設(shè)備實驗室環(huán)境試驗方法第3部：低溫試驗