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懷柔hast老化試驗箱價錢滿足標準：
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、EIA/JESD22
5、GB/T2423、40-1997
產品簡介
詳細介紹
《所發(fā)布的各款試驗設備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以艾思荔業(yè)務員根據客戶的要求所做的報價單為準》
懷柔hast老化試驗箱價錢產品特點：
1、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知門禁鎖定控制,門把設計,箱內有大于2、常壓時測試們會被反壓保護。
3、內壓力愈大時,packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命。
4、臨界點LIMIT方式自動保護,異常原因與故障指示燈顯示。
5、選配訂做：可訂做非標尺寸的箱體;可選購編程控制系統(tǒng)。
懷柔hast老化試驗箱針對的試驗說明：
用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進入封裝體內，暴露出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結構或封裝體中材料、設計的更新。應該注意，在該試驗中會出現一些與實際應用情況不符的內部或外部失效機制。由于吸收的水汽會降低大多數聚合物材料的玻璃化轉變溫度，當溫度高于玻璃化轉變溫度時，可能會出現非真實的失效模式。
外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應，會造成離子遷移不正常生長，而導致引腳之間發(fā)生短路現象。濕氣造成封裝體內部腐蝕：濕氣經過封裝過程所造成的裂傷，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經過經過表面的缺陷如：護層針 孔、裂傷、被覆不良處、、等，進入半導體原件里面，造成腐蝕以及漏電流、、等問題，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
懷柔hast老化試驗箱滿足標準：
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、EIA/JESD22
5、GB/T2423、40-1997
懷柔hast老化試驗箱技術優(yōu)勢：
1采用全自動補充水位之功能,試驗不中斷、
2.試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真 正讀取相關傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠真 正掌握實際的試驗過程。
3.干燥設計，試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥，確保穩(wěn)定性。
4.壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求。
懷柔hast老化試驗箱價錢試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。半導體的測試:ì主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路、、等相關問題。
